透射電子顯微鏡（TEM）分析法能力介紹

透射電子顯微鏡（TEM）分析法主要對(duì)材料的微觀組織觀察與分析，包括各種結(jié)構(gòu)材料、功能材料、納米材料、薄膜材料、復(fù)合材料等。現(xiàn)有透射電子顯微鏡（TEM）四臺(tái)，包括一臺(tái)鎢燈絲透射電鏡JEM-2010、一臺(tái)場(chǎng)發(fā)射透射電鏡Tecnai G2 F20、兩臺(tái)超亮電子槍場(chǎng)發(fā)射透射電鏡Talos F200X。本中心還配有Gatan原位加熱、冷卻樣品桿，百實(shí)創(chuàng)INSTEMS原位芯片樣品桿及其加熱載臺(tái)、力熱耦合載臺(tái)。透射電鏡分析檢測(cè)團(tuán)隊(duì)具有較高的專業(yè)素質(zhì)和豐富的電鏡分析與研究經(jīng)驗(yàn)。

方法簡(jiǎn)介

波長(zhǎng)極短的高能電子束（通常200kV）透過(guò)薄樣品，與其相互作用可以產(chǎn)生不同的信號(hào)，通過(guò)對(duì)不同特征信號(hào)進(jìn)行接收，透射電鏡可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的成像及分析，其的主要檢測(cè)模式為電子衍射、成像及譜學(xué)。檢測(cè)項(xiàng)目包含常規(guī)透射電鏡分析：選區(qū)電子衍射、會(huì)聚束衍射、衍射襯度成像（明場(chǎng)及暗場(chǎng)成像）、高分辨成像（HRTEM），以及多信號(hào)掃描透射電鏡（STEM）成像及能譜（EDS）分析； 高分辨STEM分析：分辨率可達(dá)到1.6?；原位透射電鏡實(shí)驗(yàn)：原位加熱、冷卻、力熱耦合實(shí)驗(yàn)。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E 1508-12a（2019）能量色散譜成分定量分析導(dǎo)則